HOME CHINESE JAPANESE KOREAN

Used Equipment Info

HOME > Used equipment infomation > Selling Infomation

Selling Information Procurement Information
search Use of search
Category Manufacture Keyword
Used equipment search result
Results 1 - 53 of about 53
No. Item Model Manufacture Vintage PDF Contact
61113-HB0232  Digital Multimeters      1980 
100207-027  測長機  AMIC-301     
100408-CB0928  DIGITAL ELECTROMETER  TR8652  ADVANTEST   
100408-CB0911  FFT Analyzer  R9211C  ADVANTEST   
100408-CB0912  Oscilloscope  54615B  Agilent   
120204-M-054  Metrology Mask & Wafer Inspection  CompassPro200  AMAT  2005 
100506-002  Spectrometric Film Thickness Measurement System  TM-005S  CANON   
120204-M-052  Metrology CD-SEM  S-8820  Hitachi  1996 
A0190-001  SEM  S-8820  HITACHI  1995 
A0190-002  SEM  S-8840  HITACHI  1997 
61113-HB02A9  multi Meter    HP   
100408-CB2008  NETWORK ANALYZER  8510  HP   
100408-CB2009  NETWORK ANALYZER  8510B・8515A・8340B  HP   
100408-CB2010  Noize Parameter TEST SET  E3630A/11713A/3478A/100204/100205  HP/CASCADE MICROTECH   
100408-CB0913  Oscilloscope  SS-5712  IWATSU   
100408-CB0914  Oscilloscope  SS-7610S  IWATSU   
90215-M121  SEM  JSM-6000F  JEOL   
A0190-003  SEM  JWS7700Z01  JEOL  1992 
120204-M-050  Metrology Thickness  Prometrix UV-1050  KLA Tencor  1995 
A0190-005  Surfscan Patterned Wafer Inspection Systems  SFS7600S  KLA Tencor  1993 
110625-001  SurfScan  SP-1  KLA-Tencor  2005 
100402-CA0550M  Wafer Stress Monitor System  FleXus F2400  KLA-Tencor  19990.11 
A0190-016  Resistivity Test System  VR-30B  KOKUSAI  1988 
100408-CB0513  Resistivity tester  VR70  KOKUSAI   
80303-IE3105  Surface Profiler  ET-4500SE  Kosaka Laboratory Ltd.  2005 
120204-M-056  Metrology Photomask Inspection   9MD-73SR  Lasertec  1992 
A0200-014  Barcode Machine  RAD-5000L9T  Lintec  2001 
A0200-013  Full Auto Screen Printer  MK-878SV  MINAMI  2003 
60310-GF1009  Dial gauge  2052FE  Mitutoyo  1998 
100408-CB0514  Manual Prober  705A  MJC   
100408-CB2007  MOS酸化膜中不純物測定装置  SD-100B  MJC   
120204-M-049  Metrology Thickness  M216  Nanometrics  1992 
100408-CB0054  NanospecAFT/210  010-0182  Nanometrics   
90215-M440100  Resistivity Measurement System  RT-8S  Napson  1985.3 
110830-001  4Point Resistance measurement  RT-80  NAPSON CORPORATION  2001 
A0190-007  Review Station  IM-120  Nidek  1995 
A0190-018  Visual Inspection System  OPTISTATION3  Nikon   
A0195-003  Metallurgical Microscope  BHMJL  OLYMPUS   
A0012-002  Microscope  MX-50  OLYMPUS   
120204-M-048  Metrology Overlay  METRA-2100m  OSI  1996 
A0190-009  Overlay Measurement   Metra2000  OSI  1998 
A0190-010  Overlay Measurement   Metra2155m  OSI  2003 
110806-001  Die Bonder  DM-60M-H  Panasonic FS  2005 
100402-CA0556M  Ferroelectric Test System  Presision Pro  RADIANT Technologies   
120204-M-059  Metrology   3620B1  Rigaku  1992 
A0195-009  X-ray  3272  RIGAKU   
60310-GF1011  Earth Tester  DM-507  SANWA  1995 
A0200-002  Wire Bonder  UTC-1000 Super  SHINKAWA  2007 
A0190-006  Visual Inspection System    SMS  1996 
91022-BT2012M  Auto Prober  P-8  TEL  1998.7 
80705-S22660  DIGITAL OSCILLOGRAPHIC RECORDERS  DL708E、Model701820-1-M-HJ/M1/C8  YOKOGAWA   
91022-BT2014M  Tester  WTS-103C  ｳｲﾝﾃｽﾄ   
90809-M440100  四探針  RT-8S  ﾅﾌﾟｿﾝ   
Used equipment infomation TOP