HOME CHINESE ENGLISH KOREAN

HOME > >

search Use of search
? ? ??
Used equipment search result
53 Results 1 - 53 of about
No. Item Model Manufacture Vintage PDF Contact
61113-HB0232  テ゛シ゛タル マルチメ−タ      1980 
100207-027  測長機  AMIC-301     
100408-CB0928  デジタル・エレクトロメータ  TR8652  アドバンテスト   
100408-CB0911  FFTアナライザ  R9211C  アドバンテスト   
100408-CB0912  オシロスコープ  54615B  アジレント   
120204-M-054  パターン欠陥検査機  CompassPro200  AMJ  2005 
100506-002  サブミクロン膜厚計  TM-005S  キヤノン   
120204-M-052  測長SEM  S-8820  日立製作所  1996 
A0190-001  SEM  S-8820  日立  1995 
A0190-002  SEM  S-8840  日立  1997 
61113-HB02A9  マルチメータ    HP   
100408-CB2008  ネットワークアナライザー  8510  HP   
100408-CB2009  ネットワークアナライザー  8510B・8515A・8340B  HP   
100408-CB2010  ノイズパラメータ テストセット  E3630A/11713A/3478A/100204/100205  HP/CASCADE MICROTECH   
100408-CB0913  オシロスコープ  SS-5712  岩通   
100408-CB0914  オシロスコープ  SS-7610S  岩通   
90215-M121  SEM  JSM-6000F  日本電子データム   
A0190-003  SEM  JWS7700Z01  JEOL  1992 
120204-M-050  膜厚測定機  Prometrix UV-1050  KLAテンコール  1995 
A0190-005  パターン付き表面検査装置  SFS7600S  KLA Tencor  1993 
110625-001  ウエハー異物検査装置  SP-1  KLA-Tencor  2005 
100402-CA0550M  ストレス測定器  FleXus F2400  KLA-Tencor  19990.11 
A0190-016  抵抗測定装置  VR-30B  国際電気  1988 
100408-CB0513  抵抗率測定器  VR70  国際   
80303-IE3105  自動微細形状測定機  ET-4500SE  小坂研究所  2005 
120204-M-056  ガラスマスク欠陥検査機  9MD-73SR  レーザーテック  1992 
A0200-014  バーコード貼付機  RAD-5000L9T  リンテック  2001 
A0200-013  全自動スクリーン印刷機  MK-878SV  ミナミ  2003 
60310-GF1009  ダイヤルゲージ  2052FE  ミツトヨ  1998 
100408-CB0514  マニュアルプローバ  705A  MJC   
100408-CB2007  MOS酸化膜中不純物測定装置  SD-100B  MJC   
120204-M-049  膜厚測定機  M216  ナノメトリクス・ジャパン  1992 
100408-CB0054  ナノスペック  010-0182  ナノメトリックス   
90215-M440100  四探針測定器  RT-8S  ナプソン  1985.3 
110830-001  シート抵抗測定機  RT-80  NAPSON CORPORATION  2001 
A0190-007  レビューステーション  IM-120  Nidek  1995 
A0190-018  外観検査装置  OPTISTATION3  ニコン   
A0195-003  金属顕微鏡  BHMJL  オリンパス   
A0012-002  微分干渉顕微鏡  MX-50  オリンパス   
120204-M-048  重ね合わせ測定機  METRA-2100m  OSI  1996 
A0190-009  重ね合わせ検査装置  Metra2000  OSI  1998 
A0190-010  重ね合わせ検査装置  Metra2155m  OSI  2003 
110806-001  ダイボンダー  DM-60M-H  パナソニックファクトリーソリューション  2005 
100402-CA0556M  強誘電体ヒステリシス特性測定機  Presision Pro  RADIANT Technologies   
120204-M-059  不純物濃度検査機  3620B1  リガク  1992 
A0195-009  蛍光X線検査装置  3272  リガク   
60310-GF1011  絶縁抵抗計  DM-507  三和電気計器  1995 
A0200-002  ワイヤーボンダー  UTC-1000 Super  新川  2007 
A0190-006  外観検査装置    SMS  1996 
91022-BT2012M  フルオートプローバ  P-8  東京エレクトロン  1998.7 
80705-S22660  デジタルスコープ 8ch  DL708E、Model701820-1-M-HJ/M1/C8  YOKOGAWA   
91022-BT2014M  テスター  WTS-103C  ウインテスト   
90809-M440100  四探針  RT-8S  ナプソン   
Back to Top