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半導体設備関連 > その他装置 > その他の検索結果

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案件管理番号 製品名 型式 メーカー 年式 画像 詳細 問い合わせ
181223-001 パーティクル検査装置 WM-7S トプコン 2011

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190721-001 カーブトレーサ 370A Tektronix

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190112-2-22-3 SMIF ローダー LPT2200 ASYST 200

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170607-M0009 表面検査装置 AL100 オリンパス

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170607-M0004 段差計 Alpha step-200 KLA Tencor

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190612-006 段差計 P-20H KLA-Tencor

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190417-001 レーザー顕微鏡 OLS4000 オリンパス

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190612-003 マクロ検査装置 Viper 2410 KLA-Tencor 2001

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190612-008 膜厚計 Ramda Ace 大日本スクリーン

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190612-009 C-V測定器 CV-8000-L 大日本スクリーン

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201909-002 蛍光X線分析装置 3700 リガク 2000

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200411-001 SEM式欠陥検査機 eScan310 HMI

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180512-001 FIB SEM JFS-9855 JEOL 2000

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190612-002 膜厚計 VL-M8100 DNS 1995

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190726-001 Loader NWL860 NIKON

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190909-001 表面粗さ測定器 ET4000A 小坂研究所 2004

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190909-002 ゴミ検査装置 WM-7 トプコン 2004

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190909-003 光学式非接触厚さ測定器 THS-208 ユニオン光学

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160109 SEM S-3000N HITACHI 2003

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181222-001 FIB SMI2050 SII 2001

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181223-016 スクラバー SS-W80BW-AV DNS 2012

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201910-001 分光エリプソ膜厚装置 APECS3000 ライカ 2004

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