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半導体設備関連 > その他装置 > その他の検索結果

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案件管理番号 製品名 型式 メーカー 年式 画像 詳細 問い合わせ
170607-003 膜厚計 AutoEL-Ⅳ ルドルフ

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170607-009 パーティクルカウンター VM-8000J 大日本スクリーン

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170607-004 パーティクルディテクター Alpha step-200 KLA Tencor

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141006-RM1-247 エリプソメーター FE-IVD ルドルフ 1994

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A0388-2 ドラフトチャンバー DFB10-AA15-AA0T ダルトン 2016

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190403-001 膜厚計 JVX5200 Jordan Valley

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190403-002 段差計 P-20H KLA-Tencor

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190403-003 AFM装置 X3D 340 Veeco 2004

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190403-004 マクロ検査装置 Viper 2410 KLA-Tencor 2001

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